![]() |
![]() |
|||
|
||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| SHRIMP II
Описание прибора Shrimp II (Sensitive High Resolution Ion Micro Probe II) является прецизионным вторично-ионным микрозондом высокого разрешения. В приборе применяется in situ-ионизация вещества пробы, посредством бомбардировки ее поверхности ионами кислорода или цезия, сфокусированными системой Колера в пучок диаметром 5-25 микрон. Ионизация приповерхностного слоя образца позволяет получить положительные или отрицательные ионы в количестве, достаточном для изотопного или элементного анализа. Такой подход освобождает от сложных, длительных и потенциально опасных аспектов пробоподготовки, присущих традиционной масс-спектрометрии. Высокое масс-разрешение прибора достигается использованием двойной фокусировки (одновременно по энергиям и массам) и очень большим радиусом поворота магнита а также электростатического анализатора. Принцип работы прибора следующий. Пучок ионов с энергией 10kV (О-) фокусируетя на небольшую область (<30 мкм диаметром) поверхности мишени. Ионная бомбардировка выбивает атомы и молекулы из мишени, частично ионизуя их. Эти вторичные ионы собираются посредством электростатических линз и направляются в масс-спектрометр, в котором они разделяются по массам. Применение SHRIMP-II имеет большую область применения. Основной является уран-свинцовое датирование по цирконам. В число других возможных применений входит:
Типичные научные задачи, решаемые с помощью SHRIMP-II:
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ©2004.ВСЕГЕИ | email:vsegei@vsegei.ru |