поиск  
     
      Новости      
      Структура      
      Информационные ресурсы      
      Конференции      
      Ссылки      
      О ВСЕГЕИ      
ENGLISH   |    RUSSIAN    |   
      Лабораторно-аналитическая служба
  • Центр Изотопных Исследований
    Общая информация
    Направления
    Аналитические возможности
    Delta plus
    Micromass NG-5400
    Element2
    Neptune
    Triton
    SHRIMP II
    Пробы
    Галерея
    Ссылки
    Исследования
    CamScan MX2500S
    Лазер DUV 193
    Quantulus
    МИ-1201
    Контактная информация
    Персонал
    Ссылки
    Цены
    SHRIMP workshop 2008
  • Центральная лаборатория
          Подразделения региональной геологии и геологического картирования
          Подразделения общей (региональной) и специальной металлогении и месторождений твердых полезных ископаемых
          Подразделения геологии месторождений горючих полезных ископаемых (топливно-энергетического сырья)
          Подразделения информационного, методического и технологического обеспечения
          Научно-вспомогательные и образовательные подразделения
          Ученый совет
          Диссертационные советы
          Совет молодых ученых и специалистов
          Гостиница
          Научно-редакционный совет Роснедра
          Межведомственный стратиграфический комитет
          Главная редколлегия

    Требования к образцам для SRHIMP-II.

    Пробы для измерений на ионном микрозонде SRHIMP-II могут быть представлены как в виде отдельных минералов, так и в виде готовых шайб. Если шайбу готовит заказчик, а не наши минералоги, то она должна удовлетворять следующим требованиям.

    Стандартная шайба (матрица) с образцами исследуемых объектов имеет форму цилиндра диаметром 25 и толщиной 5-6 мм.

    mount1 

    Как правило, матрица изготовляется из эпоксидной смолы: практика показывает, что смолы Epofix и Spеcifix являются оптимальными, поскольку не содержат примесей, могущих исказить результат. Исследуемые зерна вещества (например цирконы или другие минералы, а также стекла, керамика, полупроводники и т.п.) заливаются смолой и, по застывании, шлифуются и полируются с целью выведения на поверхность их внутренних частей. Размер зерен должен быть не менее 2  – 2,5 диаметров первичного пучка (наиболее часто применяемый размер пятна - 15 микрон).  Зерна анализируемого вещества должны располагаться не ближе 4 мм от края матрицы. Поверхность, содержащая анализируемый материал должна быть максимально плоской и гладкой; царапины и каверны, равно как и рельеф любого рода, нарушают процесс эмиссии вторичных ионов. Финальная полировка проводится алмазным абразивом 1 или 1/4 микрона. Фронтальная и тыловая плоскости матрицы должны быть параллельны.

    mount2

    Расположение зерен анализируемого вещества документируется в отраженном свете в нескольких масштабах: в мелком (увеличение х20-х40) для удобства навигации  по матрице и крупном (увеличение х200-х300)  для выбора конкретной точки для анализа. Помимо этого, для выбора конкретной области анализа вещество пробы изучается в проходящем свете и с помощью катодо-люминисценции. 

    После очистки поверхности матрицы на нее напыляется слой золота (чистота 99,999%) толщиной 150 ангстрема.


    BACK


        ©2004.ВСЕГЕИ email:vsegei@vsegei.ru     Разработано на технологии SiTex